本章では、SoCやアナログ混載LSIなどにおいて用いられる 高耐圧デバイス(High Voltage Devices) について学びます。
LDMOSやHV-CMOSに代表されるこれらの素子は、通常のCMOSに比べて高電圧印加に耐える構造を持ち、パワー制御・センサ入力・インタフェース駆動などの用途に不可欠です。
また、設計においては電界集中・寄生素子・レイアウト最適化など、微細で実装的な配慮が求められます。
ファイル名 | 内容概要 |
---|---|
ldmos.md |
LDMOS(横方向拡散型MOS):高耐圧・高電流に対応した代表的構造 |
hvcmos.md |
HV-CMOS:標準CMOSとの互換性を保ちつつ高耐圧を実現 |
junction_isolation.md |
接合絶縁構造:寄生素子防止のためのレイヤ構造とバイアス制御 |
dvdt.md |
dv/dt耐性と電界破壊:急峻な電圧変化によるデバイス破壊と対策設計 |
layout_rules.md |
レイアウト設計と最適化:ガードリング、CMPダミーなどの実装工夫 |
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