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1998年 DRAM技術アーカイブ / DRAM Archive (1998)

このディレクトリは、1998年を中心としたDRAM技術の歴史的資料・技術ノートをアーカイブしたものです。64M DRAMの立ち上げに関する実体験、プロセスフロー、セル構造、メーカー比較などを含み、技術教育および半導体史研究のために構成されています。

This directory archives historical technical materials and notes related to DRAM technology around 1998, including real-world experience from 64M DRAM ramp-up, process flows, cell structures, and maker comparisons. It is structured for educational and semiconductor history research purposes.


📂 ファイル一覧と概要 / File List and Descriptions

ファイル名 / File Name 内容概要 / Description
DRAM_Startup_64M_1998.md 64M DRAMの量産立ち上げ記録(Pause Refresh不良とその解析、アッシング→ウェット改善などの実体験記録)
Real-world record of 64M DRAM production ramp-up, including Pause Refresh failures and process improvement.
DRAM_Process_Flow_Full.md 1998年当時のDRAM製造プロセスフローの全体像(日本語)
Comprehensive process flow for DRAM fabrication in 1998 (Japanese).
DRAM_Process_Flow_Full_en.md 上記の英語版。国際技術者・研究者向けに翻訳されたもの
English version of the full DRAM process flow for international engineers and researchers.
DRAM_Cell_Structure_Comparison.md DRAMセル構造(トレンチ型 / スタック型)の比較と図解(当時の主流セル構造を比較)
Comparison and diagrams of trench vs. stacked DRAM cell structures.
DRAM_Maker_Comparison_1998.md 1998年当時の主要DRAMメーカー(NEC, Samsung, Micronなど)の技術比較
Comparison of major DRAM makers in 1998 (NEC, Samsung, Micron, etc.).
DRAM_Cell_Technology_Chronology.md DRAMセル技術の年表(セル構造と容量の進化史、主要ノードとの対応)
Chronological table of DRAM cell technologies, including evolution of structure and density.
dram_wafer_test_binclass_0.25um.md 0.25μm世代DRAMのウエハテストにおけるBin分類(フェイルストップ順、日本語・英語併記)
Bin classification used in wafer testing of 0.25µm DRAM, with fail-stop order and bilingual formatting.

🧩 用途と意義 / Purpose and Significance



本資料は、個人の実体験と文献・技術図面に基づき作成されています。内容の整合性と歴史的正確性に努めていますが、ご指摘や追加情報は歓迎いたします。

These documents are based on personal experience, technical drawings, and literature. Accuracy and historical consistency have been prioritized, but comments and additions are welcome.