📡 0.18µm RFCMOSデバイス検討

0.18µm RFCMOS Devices — Review

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📘 概要 / Overview

本資料は、三溝真一による 教育目的の仮想プロセス「0.18 µm FeRAM」 を起点に、
CMOS混載型RFデバイスの実現性を検討した内容です。

This review examines the feasibility of CMOS-integrated RF devices, expanded from the educational virtual process “0.18 µm FeRAM”.

👉 実在の製品・企業・製造プロセスとは無関係ですが、実現可能性を追求した検討要素を含みます。
👉 This work is independent of actual products or proprietary processes, but explores practical feasibility aspects.


🔄 対象デバイス群 / Target Devices

デバイス / Device 内容 / Description 特徴 / Differentiation
FeVar (Ferroelectric Varactor) HfO₂系強誘電体を用いた不揮発可変キャパシタ 再構成可能・不揮発制御
Reconfigurable, non-volatile control
FeFET-Switch HZO局所ゲートを利用したCMOS互換RFスイッチ CMOS整合・低コスト
CMOS-compatible, cost-efficient
BAW/FBAR PZT/HfO₂薄膜共振器 薄膜積層共振を応用
Thin-film stack resonance

📚 系譜図 / Process Lineage

flowchart TB
  subgraph FE["0.18 µm FeRAM (Virtual, Educational)"]
    GATE["Front-end (FEOL) / Dual-VDD CMOS 1.8/3.3 V"] --> SALI["Salicide CoSi2"]
    BEOL["Back-end (BEOL) / AlCu M1-3 + W-Plugs"]
    CAP1["FeRAM Stack A / Pt/PZT/Ti"]
    CAP2["FeRAM Stack B / TiN/HfZrO₂/TiN (HZO)"]
    GATE --> BEOL --> CAP1
    BEOL --> CAP2
  end

  CAP2 --> FeVar["FeVar / Ferroelectric Varactor"]
  GATE --> RFSW1["RF Switch / FET + FeVar Bias"]
  GATE --> RFSW2["RF Switch / FeFET-Switch"]
  CAP1 --> BAW["BAW/FBAR Core"]

  subgraph RF["RF Front-End Integration"]
    MATCH["Reconfigurable Matching / Cfixed || FeVar"]
    PATHSEL["Band/Path Selection / with RF Switches"]
    FILTER["BAW/FBAR Filters"]
    LNA["PA/LNA I/O Networks"]
  end

  FeVar --> MATCH --> LNA
  RFSW1 --> PATHSEL --> FILTER
  RFSW2 --> PATHSEL
  BAW --> FILTER

🏭 産業的背景 / Industrial Background

現行のRFフロントエンドは FBAR/BAW + SOIスイッチ に依存し、
多バンド化による部品点数増大・コスト増が大きな課題です。

Today’s RF front-ends rely on FBAR/BAW + SOI switches, facing issues of component count increase and rising costs due to multi-band expansion.

欧州・米国・日本では、再構成可能RF が6Gの研究テーマとして進展中。
CMOS内に可変素子を統合することで、コスト削減・小型化・低消費電力化が可能となります。


⚖️ 競合技術との比較 / Comparison with Existing Approaches

技術 / Technology 特徴 / Characteristics 課題 / Challenges 市場適用率 / Market Adoption
SOI-CMOS Switch 標準スマホFEMで実績多数
Proven in smartphone FEM
多バンドでチップ肥大・コスト増
Chip size/cost explosion in multi-band
★★★★☆
Very High (Mainstream)
GaAs FET 高周波特性良好
Excellent RF performance
高コスト・電源制約
Costly, power supply constraints
★★★☆☆
Medium (Legacy use, niche in PA)
MEMS Switch 超低損失・高アイソレーション
Ultra-low loss, high isolation
信頼性・寿命課題
Reliability, lifetime issues
★★☆☆☆
Low (Limited adoption)
外付けVaractor アンテナチューニングで利用
Used in antenna tuning
実装負荷・集積困難
Integration challenges
★★☆☆☆
Low (Discrete adoption only)
本検討 (FeVar/FeFET) CMOS互換・不揮発制御・小型化
CMOS-compatible, non-volatile, compact
実証・量産性未確立
Not yet mass-proven
★☆☆☆☆
Emerging (Research/Prototype)

📉 部品点数削減の効果 / Effect of Component Reduction


⚖️ RFCMOSのメリット・デメリット / Pros & Cons of RFCMOS

✅ メリット / Advantages

❌ デメリット / Disadvantages

🔧 改善方法 / Improvements


🚀 実現のための技術課題と改善策 / Challenges & Enhancements for Realization

項目 / Item 課題 / Challenge 改善策 / Enhancement
メモリ搭載 / Memory Integration RF設定が揮発的で、再起動時に再調整が必要
RF settings are volatile and require reconfiguration on restart
FeRAM/FeFETによる不揮発制御メモリ搭載で設定保持、SoC統合
Integrate non-volatile control memory (FeRAM/FeFET) for persistent settings and SoC integration
Q値改善 / Q-factor Enhancement HfZrO₂単層ではQ値が不足し、高周波特性に制約
Single HfZrO₂ layer has insufficient Q-factor, limiting RF performance
高Q誘電体 (Al₂O₃, AlN, SiO₂等)とのハイブリッド積層3Dキャパシタ構造導入
Hybrid stacks with high-Q dielectrics (Al₂O₃, AlN, SiO₂, etc.) and adoption of 3D capacitor structures
干渉対策 / Crosstalk Mitigation デジタル/アナログ/RFの干渉により特性劣化
Digital/analog/RF interference degrades performance
シールド配線・ガードリング低k/超低k絶縁体採用、ロジック/RF分離レイアウト
Shielded interconnects, guard rings, low-k/ultra-low-k dielectrics, and layout separation of logic and RF
電力耐性 / Power Handling 高出力PA用途では耐圧不足
Insufficient breakdown voltage for high-power PA applications
厚膜HfZrO₂層電極最適化で耐圧強化
Thicker HfZrO₂ layers and optimized electrodes to improve breakdown voltage
小型化 / Miniaturization フィルタ・スイッチ数が多く実装負荷大
Excessive number of filters/switches increases packaging complexity
FeVarによる可変CFeFET-SWで部品数半減、SiP/3Dパッケージ化
FeVar-based tunable capacitors and FeFET switches reduce parts count, with SiP/3D packaging for further miniaturization
動的制御 / Dynamic Control 周波数・負荷変動に即応困難
Difficult to respond to frequency/load variations in real time
FeFET制御によるダイナミックバイアス最適化で応答性強化
Dynamic bias optimization via FeFET control to enhance responsiveness

📝 結論 / Conclusion

本検討で示した FeVar / FeFET / RFCMOS統合 は、教育的には「ロジック+メモリ+RF統合設計」の理解を深める上で有用ですが、
現状の技術水準では 商用FEMに適用する実現性は困難 と評価されます。

👉 教育的意義は高いが、商用展開は限定的
→ IoT小規模無線、センサー集積回路、再構成可能RFの研究用途などに活用可能。

In conclusion, while FeVar/FeFET/RFCMOS integration has high educational value, its practical realization in commercial FEMs is currently difficult.
It may find niche applications in IoT, sensors, and reconfigurable RF research, but large-scale adoption remains unlikely.


リンク / Link 内容 / Description
📘 0.18µm FeRAM Process Flow — 完全版 FeRAMプロセスフロー完全版(教育モデル)
Full FeRAM process flow (educational model)
📘 FeRAM特有工程の詳細解説 PZTキャパシタ・AlOx保護膜・水素還元対策
FeRAM-specific steps: capacitor, AlOx, H₂ mitigation
🔬 0.18µm CMOSロジックプロセス 0.18µm CMOSロジックプロセス教材
0.18µm CMOS logic process (educational)
📐 MOSトランジスタの特性と信頼性 MOS特性と信頼性教材
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💾 メモリ技術教材集 SRAM / DRAM / FeRAM / MRAM / 3DNAND 教材
Memory technologies

👤 Author & License

項目 / Item 詳細 / Details
著者 / Author 三溝 真一(Shinichi Samizo)
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ライセンス / License Hybrid License
再配布・改変自由(教育目的) / Free for educational use
商用利用は別途許可 / Commercial use requires separate permission