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5.4 電源・リセット・I/O設計の基礎

SoCを安定して動作させるには、電源・リセット・I/Oインタフェースの設計が不可欠です。
本節では、これらの回路がどのような構成でSoCに組み込まれるのかを概観し、
実用設計における設計視点・制約・注意点を学びます。


🔋 電源設計の基本

▶ 主な電源種類

電源名 用途 電圧例
コア電源(VDD) ロジックセル・内部回路駆動 0.8V〜1.2V
I/O電源(VDDIO) パッド制御、外部接続信号 1.8V / 3.3V
アナログ電源(VDDA) PLL・ADC等のアナログブロック 専用安定電源

▶ 電源ネットワーク設計の考慮点


🔁 リセット回路の基本構成

▶ 一般的なリセット回路構成

            ┌────────────┐
  Reset --> │ Reset Gen │ →→ 全体制御リセット信号
            └────────────┘
                 ↓
       各モジュールの初期化信号生成

▶ リセット設計での注意点

観点 解説
非同期/同期リセット クロックに同期させるか否か(競合回避)
グローバルリセット クロックドメイン間の整合性保持
メタステーブル対策 リセット解除時の不安定動作防止

⬅️ I/O設計とパッドリング

▶ パッドセルの役割

▶ パッドリング設計

項目 説明
配置 チップ外周に沿ってI/Oパッドを配置
I/O電源分離 ロジックとI/Oの電源電圧を分離する構成
ESD保護 静電気破壊を防ぐためのダイオード構成等

🔧 教育的演習例

演習テーマ 内容
電源IRドロップシミュレーション パワーグリッド設計と電圧降下評価
リセット信号波形の観察 クロック同期・非同期での動作比較
I/Oパッドの設計確認 ESD構造の回路・レイアウト観察

📘 まとめと次節への導入

電源・リセット・I/Oは、チップの動作安定性と外部インタフェースの要です。
次節では、SoC設計の最終段階として、製造後のテスト容易化設計(DFT)とスキャン構造を学びます。

👉 5.5 テスト構造(スキャン、JTAG、BIST)