【半導体:15】Legacy Technologyとは何か

― 半導体が物理に支配されていた時代の失敗記録

topics: [“半導体”, “技術史”, “DRAM”, “信頼性”]

🧭 Legacy Technologyとは何か

Legacy Technology は、
過去の半導体技術を懐かしむためのアーカイブではない。

これは、半導体デバイスが
物理的制約に正面から支配されていた時代に起きた
失敗と回復の実例を構造として記録したものである。

ソフトウェアやファームウェア、
あるいはシステムレベルの補償によって
問題が「隠せる」ようになる以前。

プロセス統合、セル構造、デバイス物理が
歩留まり・信頼性・事業判断を直接決めていた瞬間が、
ここには残されている。

📌 本記事で扱うアーカイブ全体は、以下に公開している。
https://samizo-aitl.github.io/Edusemi-Plus/archive/legacy/

🕰 歴史的背景

― DRAMが「物理の塊」だった時代

1990年代半ばまで、日本はDRAM技術において
世界の最先端にあった。

複数の国内メーカーが同時に、

を世界最高水準で成立させており、
競争の主軸は次の点に置かれていた。

密度やコストだけが評価軸ではなかった。

当時のDRAMセル設計は、
本質的に アナログで物理的な問題として扱われていた。

🏗 当時の設計文化と前提

この時代の設計文化には、明確な前提があった。

この文化は、非常に頑健なメモリを生んだ一方で、
次の前提に強く依存していた。

❗ 物理マージンは侵してはならない

この前提が成立している限り、
信頼性は「設計で保証できるもの」だった。

⚠️ 転換点

（1990年代後半〜2000年代初頭）

スケーリングが 0.25µm世代以降に入ると、
この前提は徐々に崩れ始める。

🔄 何が変わったのか

項目 現実
🧮 セル容量 構造的にマージンが崩壊
💧 リーク・Disturb 例外ではなく常態に
⏳ Retention 支配的な制約要因へ
💰 市場圧力 物理確実性より速度とコスト

同時にDRAM価格は長期下落局面に入り、
故障機構を完全に理解する前に量産を進める
という判断が求められた。

Pause、Disturb、Retention loss といった故障は、
もはや仮説ではない。

顕在化する 現実の問題 になった。

🔍 なぜ今、Legacy Technologyを読むのか

ここで扱う技術は、
すでに 20年以上前のものである。

しかし、
失敗の構造は古くなっていない。

現代の半導体システムでも、
同じ因果構造は繰り返し現れる。

変わったのは、
スケール・語彙・抽象化レイヤだけだ。

🎯 本アーカイブが扱う範囲

このアーカイブが焦点を当てるのは、
物理・製造・判断の交点である。

以下は 意図的に扱わない。

🧭 本アーカイブの読み方

各ケースは、次の順で整理されている。

  1. 🏗 プロセス／構造
  2. 🔎 観測された故障モード
  3. 🧠 物理的根本原因
  4. 🧪 テスト／ビンでの現れ方
  5. 🔧 歩留まり回復または戦略判断

これは後講釈の説明順ではない。
現場で実際に問題が現れ、解かれていった順序である。

🧱 位置づけ

Legacy Technology が存在する理由は一つだけだ。

🧱 物理は、技術が進んでも消えない。

無視しやすくなるだけで、
消えたわけではない。

本アーカイブは、
物理を無視できなくなった瞬間を記録している。

🔗 関連リンク（一次情報）

⏭ 次回予告

次回から、
0.25µm世代 DRAMで実際に観測された異常に入る。

まずは
「何が起きていたのか」だけを扱う。

原因や解釈は、その後だ。