【半導体】🧠 08-02. TCADで理解するMOSFETの本質 ― Poisson方程式とDrift–Diffusion

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🧭 はじめに ― V–I特性はどこから来るのか

MOSFET の V–I 特性 は、
回路シミュレーションで突然「与えられる」ものではありません。

その起点は、デバイス内部で起きている

という、きわめて物理的な現象です。

本記事では TCAD(Technology Computer-Aided Design) の視点から、

を軸に、
👉 MOSFET の $V$–$I$ 特性が「なぜそうなるのか」 を整理します。


🔍 TCADとは何か

TCAD は、半導体デバイス内部の物理現象を
数値計算で直接解く シミュレーション手法です。

与えるのは、

その結果として、

同時に・連続的に 観測できます。

📌 回路シミュレーションが「結果を見る世界」だとすれば、
TCAD は「結果が生まれる瞬間を見る世界」です。


🧮 Poisson方程式 ― 電位がすべての起点

Poisson 方程式は、

電荷分布 → 電位分布

を結び付ける、半導体物理の根幹です。

MOS 構造では、

表面電位 を通じて、チャネル形成を支配します。

つまり、

チャネルができるかどうかは、まず電位で決まる

ということです。


🧱 MOS構造で起きていること(Poissonの役割)

ゲート電圧を上げると、MOS 構造では次の順で変化が起きます。

  1. ゲート電圧が印加される
  2. 酸化膜を介して表面電位が変化する
  3. 表面にキャリアが集まる
  4. チャネルが形成される

ここまでを 支配しているのが Poisson 方程式 です。

👉 「電位がチャネルを作る」


🚗 Drift–Diffusion方程式 ― 電流を決める

チャネルができただけでは、電流は流れません。
電流を決めるのが Drift–Diffusion 方程式 です。

これにより、

が自然に説明できます。

👉 「輸送方程式が $I_d$ を作る」


📈 V–I特性は「物理の積み重ね」

TCAD では、次の量を同時に観測できます。

これらが積み重なった 結果として

自然に立ち上がります


🧪 SemiDevKit:教育用 1D TCAD Playground

SemiDevKit では、教育用途に特化した
軽量 1D TCAD 環境 を提供しています。

🔗 TCAD トップ
https://samizo-aitl.github.io/SemiDevKit/tcad/


📊 実例①:MOSCAP C–V 特性(Poissonの結果)

酸化膜厚 $t_{ox}$ を変えると、
MOS キャパシタの C–V 特性 がどう変わるか。

MOSCAP C–V

👉 電位分布の違いが、容量として観測される


📊 実例②:nMOS $V_g$–$I_d$ 特性

酸化膜厚を変えたときの $V_g$–$I_d$ 特性。

nMOS Vg–Id

👉 Poisson → Drift–Diffusion → $I_d$


📊 実例③:nMOS $V_d$–$I_d$ 特性

nMOS Vd–Id

👉 輸送方程式が領域分けを自然に生む


🔗 TCADはゴールではない

TCAD は非常に強力ですが、

という制約があります。

そこで次に登場するのが BSIM4 です。

TCADで見た物理を、
回路で“即使える形”に圧縮する

これが コンパクトモデル の役割です。


📝 まとめ


▶ 次に読む記事

👉 03:BSIM4とは何か ― 物理を回路に落とすコンパクトモデル


🧩 SemiDevKit シリーズは
「TCAD → BSIM → SPICE → 信頼性」へと続きます。