【半導体】🧩 08-01. SemiDevKit全体像 ― TCADからSPICE・信頼性までを一本でつなぐ
topics: [“半導体”, “TCAD”, “BSIM4”, “SPICE”, “信頼性”]
🧭 この記事の位置づけ(シリーズ・ハブ)
SemiDevKit は、半導体学習で分断されがちな次の領域を
- 🧪 デバイス物理(TCAD)
- 🧩 コンパクトモデル(BSIM4)
- 🔌 回路解析(SPICE)
- ⏳ 信頼性(NBTI / HCI)
一本の流れとして体験できる教育用ツールキットです。
本記事は、本シリーズの 入口(目次・ハブ) にあたります。
🔗 SemiDevKit トップページ
https://samizo-aitl.github.io/SemiDevKit/
🤔 なぜ「一気通貫」が必要なのか
半導体の学習は、テーマごとに断片化しやすいという課題があります。
- 数式は理解できても V–I に落ちてこない
.modelが ブラックボックス になりがち- SPICE は 結果を見るだけ で終わりやすい
- 信頼性は「劣化する」で 思考停止 しがち
SemiDevKit は、この分断を意図的に壊し、
物理 → モデル → 回路(V–I)→ 劣化
を「つながった一本の線」として理解することを目的に設計されています。
🧱 SemiDevKit の全体フロー
TCAD(Poisson / Drift–Diffusion)
↓
BSIM4(コンパクトモデル)
↓
SPICE(DC / AC / CV)
↓
信頼性(NBTI / HCI)
🔑 ポイント
- 各レイヤは 単独でも理解可能
- しかし前段の理解が、後段で そのまま効いてくる
- 特に V–I(電圧–電流) を共通言語として接続
📘 各レイヤで何を学ぶか
① 🧪 TCAD(Device Physics)
- Poisson 方程式(電位分布)
- Drift–Diffusion(キャリア輸送)
- MOSFET の V–I 特性が生まれる理由
🔗 TCAD 解説ページ
https://samizo-aitl.github.io/SemiDevKit/tcad/
② 🧩 BSIM4(Compact Modeling)
- 物理を「回路で使える形」に圧縮
- BSIM4 パラメータの物理的意味
.modelが 何を表現しているか を可視化
🔗 BSIM 解説ページ
https://samizo-aitl.github.io/SemiDevKit/bsim/
③ 🔌 SPICE(Simulation)
- DC解析:$V_g$–$I_d$、$V_d$–$I_d$
- AC / CV解析:寄生容量・周波数応答
- 寸法依存:L/W と短チャネル効果の雰囲気
👉 「モデルがどう V–I に現れるか」を体感
④ ⏳ 信頼性(Reliability)
- NBTI:負バイアス × 温度 × 時間 → $V_t$ シフト
- HCI:高電界キャリアによる酸化膜劣化
👉 時間軸 が加わることで、設計の現実に近づく
📚 シリーズ記事(目次)
- 01:SemiDevKit 全体像(この記事)
- 02:TCAD(Poisson / Drift–Diffusion)
- 03:BSIM4 理論(物理 → モデル)
- 04:Paramus(BSIM4 モデル生成)
- 05:DC解析(V–I:$V_g$–$I_d$, $V_d$–$I_d$)
- 06:AC / CV解析(寄生容量・周波数)
- 07:寸法スケール(L/W と短チャネル効果)
- 08:NBTI(時間劣化)
- 09:HCI(高電界劣化)
🎯 想定読者
- 半導体を 体系的に理解したい学生
- BSIM4 / SPICE を 意味のある形で使いたい方
- 商用 TCAD / EDA なしで 全体フローを体験したい方
▶ 次に読む記事
次は、いちばん上流から入ります。
👉 02:TCADで理解する MOSFET の本質
(Poisson / Drift–Diffusion)