SystemDKにおけるFEM制約統合ノート

SystemDK-Based Integration of FEM-Derived Constraints


1. はじめに / Introduction

SystemDKは、PoC評価から量産SoC設計までを一貫して支える設計アーキテクチャである。本ノートでは、PoC段階で得られたFEM(Finite Element Method)解析結果をどのようにSystemDKにフィードバックし、熱・応力・EMIなどの物理制約として統合するかを扱う。

SystemDK supports end-to-end design from PoC evaluation to mass production SoC.
This note discusses how to feed back FEM (Finite Element Method) results obtained at the PoC stage into SystemDK, integrating physical constraints such as thermal, stress, and EMI.


2. PoCレベルでのFEM解析事例 / FEM Analysis at the PoC Level

This section presents FEM use cases at the PoC level:
thermal distribution in GAA structures, stress concentration in MRAM stacks, and EMI risks in AMS-digital integration.


Figure 1: GAA Thermal FEM

Figure 1: Simulated thermal distribution in a GAA nanowire structure using FEM.


2.5 局所FEM結果のスケール統合

2.5 Multi-Scale Integration of Local FEM Results

FEMによるトランジスタやナノワイヤ構造(例:GAA)の解析では、ナノメートルスケールでの局所的な熱分布・温度ピークを精密に捉えることができる。しかし、これらの結果をそのままモジュールやチップレット全体の熱分布と結びつけるには、スケールをまたぐ物理モデルの階層連携が必要である。

FEM analysis at the device level (e.g., GAA nanowires) captures fine-grained thermal behavior such as localized heating or interface resistances. However, to relate these to module- or chiplet-scale thermal distributions, a hierarchical multi-scale modeling approach is required.


🔗 スケール統合の一般的手法 / Common Integration Techniques

スケール 対象 手法 備考
デバイスFEM GAA, MRAM, Cell 熱抵抗 $begin:math:text$ R_{th} = \Delta T / P $end:math:text$ 抽出 電力あたり温度上昇を取得
モジュールCTM SRAM, ALU, AMS 発熱密度マップ(W/μm²)化 レイアウト上に敷き詰める
チップレットCTM/BEM SoCタイル全体 熱源マップ+材料境界条件 チップ内熱干渉をモデル化
PKG/システムTLM/CFD ヒートシンク、冷却路 上位伝熱経路と接続 冷却能力の評価

🖼️ 概念図(階層熱伝搬) / Conceptual Flow

Figure 2: Multiscale Flow

Figure 2: Multi-scale thermal modeling flow from device FEM to package-level cooling.


3. BRDK / PKGDK / IPDKへの制約伝搬モデル

Constraint Propagation Models to BRDK, PKGDK, and IPDK

FEM-derived constraints are propagated into various DK layers, enabling adaptive layout, thermal optimization, and noise reduction strategies.


🔧 JSONデータ例(FEM出力 → BRDK形式)

{
  "component": "GAA_cell_3",
  "max_temperature_C": 102.3,
  "thermal_margin_C": 15,
  "cooling_required": true,
  "preferred_sink_location": [ "bottom_left", "center" ]
}

Figure 3: Example of thermal_map.json derived from FEM output.


4. SystemDK設計での活用事例 / Use Cases in SystemDK Design

By integrating FEM feedback, SystemDK can support layout and routing strategies that reflect realistic environmental and physical constraints.


5. おわりに / Outlook

FEM解析とSystemDKの統合は、PoCの精度を高めるだけでなく、量産設計への物理的妥当性の橋渡しを可能にする。将来的には、AIによるFEMパラメータ最適化や、マルチモーダル制約統合(熱・応力・電源・ノイズ同時最適化)が期待される。

Integration of FEM into SystemDK bridges PoC accuracy and mass-production validity.
Future directions include AI-assisted FEM optimization and multi-modal constraint integration.