📦 SystemDK PoCマニュアル

SystemDK-Based PoC Manual for Physical Constraint Integration


📘 概要|Overview

本マニュアルでは、System Design Kit(SystemDK)に基づく物理制約の統合設計と、
GAA(Gate-All-Around) / AMS(Analog-Mixed Signal) / MRAM(Magnetoresistive RAM) を統合する
チップレットPoC(概念実証)構成を体系的に解説します。

This manual systematically introduces a PoC structure based on the System Design Kit (SystemDK)
for physical constraint integration and chiplet-based heterogeneous design
with GAA, AMS, and MRAM functional blocks.


📊 構造図|Block Diagram

SystemDK PoC Flowchart


📚 セクション構成|Section Structure

ファイル名 / File 内容 / Description
1 poc_1_motivation.md なぜSystemDKによるPoCが必要か?設計動機と狙い
Why a PoC using SystemDK is needed: motivations & goals
2 poc_2_systemdk_platform.md SystemDKのプラットフォーム概要と評価支援
SystemDK overview as a constraint-aware platform
3 poc_3_block_spec.md GAA / AMS / MRAMブロックの仕様と構成定義
Node and block specifications for GAA, AMS, MRAM
4 poc_4_constraint_profiles.md SI/PI・熱・応力・EMI/EMCの設計要件
Constraint profiles for SI/PI, thermal, stress, EMI/EMC
5 poc_5_integration.md Chiplet統合における制約整合とレイアウト設計
Physical alignment and layout in chiplet integration
6 poc_6_fem_analysis.md FEM・熱・電磁界・応力解析の事例
Examples of FEM, thermal, EM, and mechanical analysis
7 poc_7_summary.md 本PoCのまとめと教育的意義の整理
Summary and educational reflections on the PoC

🧾 DesignKitとは|What Are DesignKits?

DesignKit 正式名称 対象階層 説明
BRDK Board-Level Design Kit 評価ボード PoC評価用PCB設計と実装制約(熱、電源、IR Dropなど)
IPDK Interposer Design Kit インターポーザ層 チップレット間接続層。TSV、RDL、応力吸収、EMI制御が中心
PKGDK Package-Level Design Kit PKG全体 PoP、マルチチップ、放熱構造、スタッキングなどの制約
SystemDK System-Level Design Kit システム統合階層 上記を統括し設計制約・FEM情報を一元管理・再利用可能にする

PoC評価における熱・応力・EMIなどのFEM解析結果をSystemDK設計に反映させるための技術ノート群です。
These technical notes summarize how FEM results (thermal, mechanical stress, EMI) are fed back into SystemDK design during PoC evaluation.

📄 fem_constraints.md

🔗 ➡️ 開く(Open fem_constraints.md)

🧱 stress_map.md

🔗 ➡️ 開く(Open stress_map.md)

📡 emi_constraints.md

🔗 ➡️ 開く(Open emi_constraints.md)


🔁 PoCDKによる実評価と制約抽出|PoCDK Evaluation Flow

PoC設計の最終フェーズでは、実際のPoC評価ボードを用いた混載構成の動作検証と、
FEM解析による多物理場制約の抽出を行います。

In the final stage of the PoC, real board-level testing is combined with FEM-based analysis
to extract cross-domain physical constraints for SystemDK refinement.

✅ 実施内容(What to Perform)

項目 内容(日本語) 内容(英語)
FPGAでの動作検証 MRAM / AMS / SoCモジュールを評価ボード上に混載し、通信/制御を実機検証 Mixed integration on a PoC board with FPGA control, verifying actual interaction
FEM解析 熱・応力・EMI・IR dropの解析を行い、各構造の弱点を抽出 Conduct FEM analysis for thermal, mechanical, EMI, IR-drop to identify constraints
制約のDesignKit化 解析結果をBRDK/IPDK/PKGDKへ展開し、SystemDKに再統合 Feed constraint results into respective kits and unify via SystemDK

🔄 SystemDK PoC 全体フロー|SystemDK PoC Full Process

graph TD
  A[① 全体アーキテクチャ設計<br>(PoC目的・ブロック接続定義)] --> B[② モジュール選定<br>(GAA / AMS / MRAM)]
  B --> C[③ FPGAベースのRTL設計<br>(Verilog記述)]
  C --> D[④ テストベンチ作成<br>(動作検証環境構築)]
  D --> E[⑤ PoC評価ボード設計<br>(FEM考慮の回路設計)]
  E --> F[⑥ 実装発注<br>(MRAM・AMS混載構成)]
  F --> G[⑦ 実ボード評価 + FEM解析<br>(熱・応力・EMI)]
  G --> H{⑧ SoC化の可否判断}
  H -->|Yes| I[⑨ SoC RTL設計<br>(統合アーキ)]
  I --> J[⑩ 物理設計フローへ移行<br>(P&R, DRC等)]
  J --> K[⑪ SystemDK構築<br>(BRDK / IPDK / PKGDK統合)]

  H -->|No| L[🔁 PoC段階で再評価・改善]

※この図は、PoCからSystemDK設計への段階的なフローを示しています。
This diagram illustrates the sequential flow from PoC to SystemDK integration.


📦 PoCDKからのDesignKit派生

DesignKit 抽出される主な情報(例)
BRDK 熱分布マップ、電源経路IR Drop、基板配線インピーダンス
IPDK (Interposer) TSV構造、RDLパターン、層間応力、EMI拡散層
PKGDK チップスタック放熱、ワイヤボンド応力、PKG内PI/SI制約
SystemDK DK統合マップ、FEMフィードバック、設計履歴/トレードオフ記録

🧩 位置づけ|Relation to Edusemi

このPoCマニュアルは、Edusemi-v4x 特別編 第2a章 SystemDK教材 の一部として設計されています。

This PoC manual is part of the SystemDK module (Special Chapter 2a) within Edusemi-v4x,
providing a deeper implementation and hands-on practice based on the conceptual contents of:


🎯 教育的意義|Educational Value


👤 著者・ライセンス|Author & License

項目 / Item 内容 / Details
著者 / Author 三溝 真一(Shinichi Samizo)
Shinshu University / Ex-Epson
GitHub Samizo-AITL
Email shin3t72@gmail.com
ライセンス / License MIT License(再配布・改変自由)
MIT License (Free to reuse/modify/redistribute)

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