📘 Appendix 2.3:インターポーザと再配線層(RDL)の積層構造

Appendix 2.3: Interposer and Redistribution Layer (RDL) Stack Structures


📌 概要 / Overview

本資料では、2.5D・3Dパッケージにおけるインターポーザ構造とRDL(Redistribution Layer)構成について、代表的な設計例をもとに解説します。
This appendix presents typical structures of silicon interposers and RDL stacks used in 2.5D/3D packaging.

それぞれが多チップ接続・熱分散・信号配線の中核技術として機能します。
They are essential for multi-die interconnects, thermal management, and high-density routing.


🧩 インターポーザ(Si)構造例

Silicon Interposer: Structural Example

✦ 上面図(Top View)

Top View:
┌─────────────┐
│  Die1  Die2 │  ← 複数ロジックダイ / Multiple Logic Dies
│   │     │   │
└────┬───────┘
     │  TSV  ↓
     │───────┐
     ▼       │
Bottom: RDL + bump array

✦ 積層断面構成 / Cross-Section Layers

🧩 層 / Layer 🔧 内容 / Description 📘 特徴 / Characteristics
Die層
Die Layer
ロジック/メモリダイ群
Logic/memory dies
μ-bumpで接続
μ-bump interconnect
接続層
Connection Layer
TSV + RDL 垂直ビアと再配線層
Vertical vias and redistribution
配線層
Metal Layer
Cu + PI (2–4層) 高密度配線+絶縁
High-density routing and insulation
バンプ層
Bump Layer
C4/Sn バンプ 基板接続(FC-BGAなど)
Connection to package substrate

🔄 RDL構造(Fan-Out / WLP)

Fan-Out and WLP-Type RDL Structures

✦ 典型構成 / Typical Fan-Out RDL Stack

🧩 層 / Layer 🔧 材料 / Material 📘 目的 / Purpose
上部配線層
Top Metal
Cu + PI 信号配線ルーティング
Signal routing
中間配線層
Mid Metal Layers
Cu + PI (2–6層) 多層再配線構成
Multilayer redistribution
チップ埋込層
Embedded Die Layer
Mold樹脂
Mold Resin
Fan-Outスペース確保
Supports die and area expansion
I/O層
Bottom I/O Layer
Cuバンプ
Cu Bumps
LGA/BGA接続
Board-level interconnects

✦ 特徴 / Characteristics


🏗️ 多層化における設計観点

Key Considerations for Multilayer Design

🔍 観点 / Aspect 🛠️ 留意点 / Design Considerations
寸法制御
Dimensional Accuracy
膜厚・ライン幅・ギャップの精密制御
Accurate thickness, line width, spacing
熱応力管理
Thermal Stress Control
CTE差による応力とクラックに注意
Handle stress from CTE mismatch
レジスト整合性
Resist Alignment
各層のマスク合わせ精度が重要
Precise mask alignment between layers
平坦性維持
Planarity / CMP
CMP工程での平坦化が不可欠
Ensure flat surface via CMP for lithography

📌 まとめ / Summary

インターポーザとRDLは、チップレット技術や先端実装を支える不可欠な基盤技術です。
Interposers and RDLs are foundational technologies in chiplet-based and advanced packaging.

➡ 電気・熱・信号配線の複合的制約を同時に扱うため、構造設計と材料選定の統合的最適化が求められます。
➡ Their complexity demands a co-optimized structural and material design approach.


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