🌟 5b.2:基板・ウェル・チャネル構造による低ノイズ化

5b.2: Low Noise via Substrate, Well, and Channel Engineering


🎯 節の狙い / Objective

本節では、MOSトランジスタの1/fノイズの主な発生源である「チャネルと界面」周辺の構造を、
基板選定やウェル濃度、チャネル構造の工夫により物理的に抑制する手法を示す。

これらの工夫は設計段階では制御しきれない領域であり、
製造技術による素子性能の差別化に直結する重要要素である。

This section presents methods to suppress 1/f noise by optimizing the substrate, well concentration, and channel structure.
These approaches focus on areas that cannot be effectively controlled at the design stage,
and are key to differentiation through manufacturing technology.


🔧 対策①:Epi基板の採用 / Use of Epitaxial Substrate


🔧 対策②:NWell濃度の最適化 / Optimization of N-Well Doping


🔧 対策③:PMOS構造の選択 / Preference for PMOS Devices


🔧 対策④:W/L比の最適化 / Optimizing W/L Ratio


✅ 本節のまとめ / Summary

🧩 項目|Item ✨ 主な効果|Main Effect 📝 備考|Notes
Epi基板
Epi Substrate
チャネル直下の結晶品質改善、トラップ低減
Improved crystal quality and fewer traps
歩留まり・コスト要注意
Check yield/cost balance
NWell濃度制御
N-Well Control
電界分布の改善、トラップ活性抑制
Weaker field reduces trap activity
耐圧や速度と要バランス
Balance with Vds/speed
PMOS主体構成
PMOS Preference
感受性低下によるノイズ抑制
Reduced sensitivity to traps
BGR用途に有効
Useful in BGR etc.
W/L最適化
W/L Optimization
電界緩和、界面刺激低減
Lower field and interface disturbance
面積とのトレードオフ
Layout area trade-off