🛡️ ラッチアップ防止と寄生トランジスタ対策

🛡️ Latch-up Prevention and Parasitic Transistor Countermeasures


📘 概要 | Overview

CMOSプロセスでは、基板内に形成される寄生バイポーラ構造により、
「ラッチアップ(latch-up)」と呼ばれる破壊的な電流経路が生じる可能性があります。
In CMOS processes, parasitic bipolar structures within the substrate can cause
a destructive current path known as latch-up.

本節では、ラッチアップの発生メカニズムと防止策をレイアウト視点から整理します。
This section outlines the mechanism of latch-up and layout-based prevention techniques.


⚠️ ラッチアップとは? | What is Latch-up?

項目 / Item 内容 / Description
構造
Structure
P-Well / N-Well 間に形成される PNPN構造(SCR)
Unintentional PNPN (SCR) structure between wells
誘因
Triggers
静電気、電源ノイズ、過渡電圧など
ESD, power noise, transient voltage spikes
現象
Phenomenon
寄生バイポーラ素子が自己持続的に導通
Parasitic BJTs enter self-sustaining conduction
結果
Result
電源-GND間に大電流が流れ素子が破壊
High current between VDD-GND → Device damage

🔬 発生モデル:寄生SCR構造 | Parasitic SCR Model

    Anode(VDD)
       │
    P+ (N-Well)
       │
   N-Well
       │
    N+ (Base)
       │
    P-Well
       │
    P+ (Cathode: GND)

  このように、**P-N-P-N**構造が無意識に形成されるため、**物理的な隔離・電位制御が必要**です。

🔍 このSCR構造により、外部トリガで自励振動的に電流が流れるため、
物理的隔離と電位制御が設計上不可欠となります。
Once triggered, the SCR conducts persistently, making physical isolation and potential control essential.


🛠️ レイアウトでの主な対策 | Layout-Based Prevention Techniques

対策方法 / Method 内容 / Description
Guard Ring GND/VDDに接続したP+/N+リングで寄生電流の経路を外へ逃がす
P+/N+ ring connected to GND/VDD that diverts parasitic currents
Well Tap配置 Wellの電位を固定し、ベース浮遊を防止
Stabilizes well potential to avoid floating base
ディープウェル導入 P-WellとN-Well間を深いN型拡散層で隔離(HVプロセス等)
Use of deep N-well to isolate P-Well and N-Well (e.g., in HV processes)
デバイス間距離の確保 最小隔離距離の設計ルールを厳守
Maintain minimum spacing between P/N devices per design rules

📐 設計ルールの一例(0.18μm世代)

📐 Example Design Rules (0.18μm Node)


🎯 教材的意義 | Educational Perspective


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DRC Rule Application and Real Layout Case Studies


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🧱 Applied Chapter 4: Layout Design and Optimization
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