🧪 CMP対応のダミーパターンと均一化設計

🧪 CMP-Compatible Dummy Pattern and Density Equalization Design


📘 概要 | Overview

CMP(Chemical Mechanical Polishing)は、金属層や絶縁層の平坦化(planarization)を目的とした工程で、
レイアウト設計におけるパターン密度の均一性が品質に直結します。
CMP (Chemical Mechanical Polishing) is a planarization process for metal and dielectric layers,
where layout density uniformity directly affects manufacturing quality.

本セクションでは、CMP非均一性による不具合と、Metal Fill(ダミーパターン)による対応技術を学びます。
This section covers CMP-related issues and the use of metal fill (dummy patterns) to address them.


🧩 CMPとは | What is CMP?

項目 / Item 内容 / Description
目的
Purpose
層間の段差をなくし、表面を平坦に保つ
Eliminates step differences between layers for planar surfaces
工法
Method
スラリー+パッドでの機械的・化学的研磨
Mechanical + chemical polishing using slurry and pad
適用層
Target Layers
メタル層間、STI、ILD など
Metal layers, STI, interlayer dielectrics
問題点
Issues
パターン密度に依存して研磨量に差 → オーバー研磨/アンダー研磨
Polishing rate varies with pattern density → Over- or under-polishing

⚠️ CMP非均一性の問題 | Issues from CMP Non-Uniformity


🧱 Metal Fill(ダミーパターン)の種類 | Types of Dummy Patterns

種類 / Type 用途 / Purpose 配慮点 / Considerations
Dummy Metal 空白領域を金属で埋めて密度均一化
Fills empty areas to equalize density
信号とのカップリング抑制距離を確保
Maintain spacing to minimize coupling
Dummy Via Via密度均一化、構造対称性向上
Equalize via density, improve symmetry
層間接続への影響を最小化
Minimize impact on routing layers
Dummy Poly ポリシリコン領域の密度均一化(特にゲート間)
Equalize poly density, especially between gates
デバイス特性への影響を避けるため配置に制約あり
Requires careful placement to avoid affecting device behavior

📐 Density Rule(密度ルール) | Density Rule in PDK

✅ 多くのEDAツール(Innovus, ICC2など)でAuto Fill機能が利用可能
Most EDA tools provide Auto Fill functionality before tapeout


🛠️ 実務上の工夫 | Practical Considerations


🎯 教材的意義 | Educational Perspective


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ir_drop_and_em.md:IRドロップとエレクトロマイグレーション対策へ
IR Drop and Electromigration Countermeasures


🧱 応用編 第4章:レイアウト設計と最適化 /
🧱 Applied Chapter 4: Layout Design and Optimization
📘 セクション一覧 / Section Index


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