💾 応用編 第1章|メモリ技術の構造と選定指針

Applied Chapter 1 | Memory Technologies – Structure and Selection Guidelines


🎯 章のねらい|Chapter Objectives

🇯🇵 日本語 🇺🇸 English
- 各種メモリ(SRAM / DRAM / FeRAM / MRAM / NAND)の構造と動作原理を理解する - Understand the structure and operation principles of SRAM, DRAM, FeRAM, MRAM, and NAND
- 速度・不揮発性・書換耐性・面積効率・消費電力などの評価軸を比較検討できる - Be able to evaluate memory types across axes such as speed, non-volatility, endurance, area, power
- SoCにおけるメモリ統合・選定・接続方法を習得し、設計判断の基盤を築く - Learn how to integrate, select, and interface memory in SoC design with a solid engineering foundation

📚 節構成|Chapter Structure

No. セクション名(日本語) Section Title (English) リンク
1.1 SRAM(Static RAM):高速・揮発 High-speed volatile memory for cache/registers 📎
1.2 DRAM(Dynamic RAM):大容量・リフレッシュ必要 High-density memory requiring refresh (e.g., DDR, LPDDR) 📎
1.3 FeRAM:強誘電体RAM・不揮発 Non-volatile memory for low-power / analog-mixed LSI 📎
1.4 MRAM:磁気RAM・不揮発・高耐久 Durable non-volatile memory (STT/SOT); eFlash replacement 📎
1.5 3D NAND:大容量・不揮発・ストレージ用途 Large-capacity flash for storage (eMMC, SSD, UFS, etc.) 📎

🧠 設計観点のトピック|Design-Oriented Topics


章・資料 内容 本章との関係
第4章:MOSトランジスタ特性 MOSの動作原理と構造 メモリセル(6T, 1T1C, MTJ等)理解の前提
第5章:SoC設計フローとEDAツール 合成・PDK統合・配置配線 SRAMマクロの設計・呼出に関与
第6章:テスト・パッケージ技術 書換耐久・リテンション・信頼性 メモリ評価・不良解析との接続
DRAM Startup Record (1998) 1998年 DRAM立ち上げ記録
Startup record of 64M DRAM in 1998
DRAMセル構造と信頼性の実務課題と改善策
VSRAM Development Record (2001) 2001年 VSRAM開発記録
Development of pseudo SRAM in 2001
DRAM応用による擬似SRAMと歩留まり改善の教材化
0.18µm FeRAM Process Flow 0.18µm強誘電体メモリ工程フロー
Process flow of 0.18µm FeRAM
FeRAM構造・混載SoC応用の理解と設計教育に有用

🧩 章のキーワード|Keywords

SRAM, DRAM, FeRAM, MRAM, 3D NAND, PDK, Macro, Non-volatile, Endurance, FTL, ECC, Sky130


📌 補足情報|Supplement


👤 著者・ライセンス|Author & License

項目|Item 内容|Details
著者|Author 三溝 真一(Shinichi Samizo)
GitHub Samizo-AITL
Email shin3t72@gmail.com
ライセンス|License MIT License(再配布・改変自由)
Redistribution and modification allowed

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